Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 509 bodů

Anotace knihy

This comprehensive book explains the problem of estimating statistics of memory performance variation induced due to IC manufacturing process variations. It further provides solutions recently proposed in the Electronic Design Automation (EDA) community.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
• Autor: Amith Singhee, Rob A. Rutenbar
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 246
• EAN: 9781461426721
• ISBN: 1461426723
• ID: 01427436
• Nakladatelství: Springer, Berlin
• Hmotnost: 367 g
• Rozměry: 235 × 155 × 13 mm
• Rok vydání: 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---