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La diagnosticabilidad de un sistema es la posibilidad de detectar y localizar el estado de falta en el que se encuentra el sistema a partir del conocimiento de sus entradas, salidas y la estructura de su modelo en un tiempo finito. En este trabajo se extiende esa definición al ámbito de los Sistemas de Eventos Discretos (SED) modelados con Redes de Petri Interpretadas(RPI). Las RPI son usadas para modelar tanto el comportamiento normal y de falta de un sistema. Basándose en tal modelo se propone la noción de diagnosticabilidad entrada-salida y se propone un algoritmo polinomial para caracterizar RPI diagnosticables. Para la detección y localización de fallas en línea en los SED, se proponen dos esquemas de diagnóstico que utilizan un modelo de referencia expresado en RPI. Uno de los esquemas incluye un modelo diagnosticador mínimo; se propone un método eficiente para obtener tal diagnosticador el cual está formado por un lugar y tantas transiciones como haya en el modelo del sistema; el marcado de ese único lugar es suficiente para detectar y localizar la ocurrencia de las fallas en el SED. Se propone una extensión a este sistema con modelos diagnosticadores con mas de un lugar.

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• Plný název: Esquemas de Diagnostico de Faltas Para Sistemas de Eventos Discretos
• Autor: Elvia Ruiz Beltrán, Luis Ernesto López Mellado
• Jazyk: Španělština
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 176
• EAN: 9783659028205
• ISBN: 3659028207
• ID: 07067354
• Nakladatelství: Eae Editorial Academia Espanola
• Hmotnost: 268 g
• Rozměry: 229 × 152 × 10 mm
• Datum vydání: 19. July 2012

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