Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy / Nejlevnější knihy
Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation  Methods in Microscopy

Kód: 18210542

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Autor Budhika Mendis

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences. ... celý popis

3129

Dostupnost:

50 % šanceMáme informaci, že by titul mohl být dostupný. Na základě vaší objednávky se ho pokusíme do 6 týdnů zajistit.
Prohledáme celý svět

Informovat o naskladnění

Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Informovat o naskladnění knihy

Informovat o naskladnění knihy


Souhlas - Souhlasím se zasíláním obchodních sdělení a zpracováním osobních údajů k obchodním sdělením.

Zašleme vám zprávu jakmile knihu naskladníme

Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.

Více informací o knize Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Nákupem získáte 313 bodů

Anotace knihy

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Science: general issues Scientific equipment, experiments & techniques

3129

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 46008 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: