Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 265 bodů

Anotace knihy

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
• Autor: Eugene R. Hnatek
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 180
• EAN: 9780442006433
• ISBN: 0442006438
• ID: 01387470
• Nakladatelství: Springer, Berlin
• Hmotnost: 454 g
• Rozměry: 229 × 152 × 14 mm
• Rok vydání: 1993

---

---

---