Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 539 bodů

Anotace knihy

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
• Podnázev: Process-Aware SRAM Design and Test
• Autor: Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 194
• EAN: 9781402083624
• ISBN: 1402083629
• ID: 01418343
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 468 g
• Rozměry: 239 × 166 × 19 mm
• Datum vydání: 01. May 2008

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---