Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 406 bodů

Anotace knihy

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Plný název: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
• Autor: Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 210
• EAN: 9781475781847
• ISBN: 1475781849
• ID: 02254200
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 426 g
• Rozměry: 254 × 178 × 13 mm
• Datum vydání: 22. May 2013

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---