Mohlo by se vám také líbit

Informovat o naskladnění knihy

Více informací o knize Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 1110 bodů

Anotace knihy

Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on AFM techniques.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Science: general issues Scientific equipment, experiments & techniques

• Plný název: Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies
• Autor: Kash L Mittal
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 822
• EAN: 9789067644341
• ISBN: 9789067644341
• ID: 06671236
• Nakladatelství: Brill
• Hmotnost: 1680 g
• Rozměry: 234 × 156 mm
• Datum vydání: 01. October 2005

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---