Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 509 bodů

Anotace knihy

This book describes the design of resilient VLSI circuits. VLSI design has become more challenging recently, due to the detrimental effects of radiation particle strikes and processing variations. This book presents algorithms to analyze the effects of these issues on the electrical behavior of VLSI circuits and circuit design techniques to mitigate the impact of these problems.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
• Podnázev: Mitigating Soft Errors and Process Variations
• Autor: Rajesh Garg, Sunil P. Khatri
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 212
• EAN: 9781441909305
• ISBN: 1441909303
• ID: 01420515
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 506 g
• Rozměry: 238 × 159 × 24 mm
• Datum vydání: 01. October 2009

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---