Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Advances in Scanning Probe Microscopy

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 236 bodů

Anotace knihy

Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors, and more. This book is of interest to those involved in using scanning probe microscopy.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Advances in Scanning Probe Microscopy
• Autor: T. Sakurai, Y. Watanabe
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 343
• EAN: 9783540667186
• ISBN: 9783540667186
• ID: 08908922
• Nakladatelství: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Hmotnost: 705 g
• Rozměry: 235 × 155 × 24 mm
• Datum vydání: 27. March 2000

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---