Advanced VLSI Design and Testability Issues / Nejlevnější knihy
Advanced VLSI Design and Testability Issues

Kód: 28397480

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Autor Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra

This book facilitates the VLSI interested people not only with the in-depth knowledge but the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The deep understanding of b ... celý popis

3635


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-21 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Advanced VLSI Design and Testability Issues

Nákupem získáte 364 bodů

Anotace knihy

This book facilitates the VLSI interested people not only with the in-depth knowledge but the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you

Parametry knihy

3635

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 46010 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: