Kód: 05048770
Advanced Trace Analysis in six chapters, by eminent scientists, discusses statistical approaches to verify trace element analysis data, trace analysis techniques like ICPMS and XRF, ion beam analysis techniques, speciation analysi ... celý popis
Angličtina
1756 Kč
Dostupnost:
50 % šance
Máme informaci, že by titul mohl být dostupný. Na základě vaší objednávky se ho pokusíme do 6 týdnů zajistit.
Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.
Nákupem získáte 176 bodů
Anotace knihy
Advanced Trace Analysis in six chapters, by eminent scientists, discusses statistical approaches to verify trace element analysis data, trace analysis techniques like ICPMS and XRF, ion beam analysis techniques, speciation analysis of uranium relevant to waste disposal and management along with the use of greener techniques for trace elemental speciation analysis.
Parametry knihy
Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Chemistry
1756 Kč
AngličtinaOsobní odběr Praha, Brno a 45991 dalších
Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Vrácení do měsíce
571 999 099 (8-15.30h)Nákupní košík ( prázdný )