Mohlo by se vám také líbit

Informovat o naskladnění knihy

Více informací o knize Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 463 bodů

Anotace knihy

The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology. A major novelty of this work is the presentation of a unified theoretical framework based on the Fourier description of phase shifting interferometry using the Frequency Transfer Function (FTF) along with the theory of Stochastic Process for the straightforward analysis and synthesis of phase shifting algorithms with desired properties such as spectral response, detuning and signal-to-noise robustness, harmonic rejection, etc.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Optical physics

• Plný název: Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
• Podnázev: Theory, Algorithms, and Applications
• Autor: Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 344
• EAN: 9783527411528
• ISBN: 3527411526
• ID: 02718117
• Nakladatelství: Wiley-VCH Verlag GmbH
• Hmotnost: 898 g
• Rozměry: 250 × 175 × 22 mm
• Datum vydání: 02. July 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---