Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize VLSI Design and Test

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018. The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Computing & information technology Computer hardware

• Plný název: VLSI Design and Test
• Podnázev: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
• Autor: S. Rajaram, N. B. Balamurugan, D. Gracia Nirmala Rani, Virendra Singh
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 722
• EAN: 9789811359491
• ID: 20943800
• Nakladatelství: Springer Verlag, Singapore
• Hmotnost: 1116 g
• Rozměry: 235 × 155 × 40 mm
• Datum vydání: 25. January 2019

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---