Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
• Autor: Xiao Liu, Qiang Xu
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 108
• EAN: 9783319375946
• ISBN: 3319375946
• ID: 13787232
• Nakladatelství: Springer International Publishing AG
• Hmotnost: 273 g
• Rozměry: 235 × 155 × 7 mm
• Datum vydání: 23. August 2016

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---