Thermal Testing of Integrated Circuits / Nejlevnější knihy
Thermal Testing of Integrated Circuits

Kód: 08348631

Thermal Testing of Integrated Circuits

Autor Antonio Rubio

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title ... celý popis

3039


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 10-15 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Thermal Testing of Integrated Circuits

Nákupem získáte 304 bodů

Anotace knihy

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

3039

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: