Testing Integrated Circuits / Nejlevnější knihy
Testing Integrated Circuits

Kód: 07171064

Testing Integrated Circuits

Autor Mikhail Itskovich

This book teaches how to design and manufacture a testing system for the next generation of integrated circuits. ... The growing efficiency in manufacturing of semiconductor devices combined with increased speed, size and performa ... celý popis

1443


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-18 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Testing Integrated Circuits

Nákupem získáte 144 bodů

Anotace knihy

This book teaches how to design and manufacture a testing system for the next generation of integrated circuits. ... The growing efficiency in manufacturing of semiconductor devices combined with increased speed, size and performance of integrated products puts an incredible pressure on testing and verification technology. While negligible in the past, the cost of verification for a modern semiconductor design can be as high as half of the total manufacturing cost. In order to accommodate testing requirements, modern test equipment must operate up to 100 times faster than the state-of-the-art production circuits while using technologies several generations older. ... This book teaches how to test future generations of integrated circuits by using transient currents measured at the power nodes.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

1443

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: