Kód: 09161362
This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.
3907 Kč
Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.
Nákupem získáte 391 bodů
This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.
Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering
3907 Kč
Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších
Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Nákupní košík ( prázdný )