Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Computing & information technology Computer science Artificial intelligence

• Plný název: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
• Podnázev: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
• Autor: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 939
• EAN: 9783540372363
• ISBN: 3540372369
• ID: 01562456
• Nakladatelství: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Hmotnost: 1431 g
• Rozměry: 235 × 155 × 50 mm
• Datum vydání: 03. August 2006

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---