Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V / Nejlevnější knihy
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V

Kód: 06370931

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V

Autor Rajeshuni Ramesham

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.


Momentálně nedostupné

Informovat o naskladnění

Přidat mezi přání

Informovat o naskladnění knihy

Informovat o naskladnění knihy


Souhlas - Souhlasím se zasíláním obchodních sdělení a zpracováním osobních údajů k obchodním sdělením.

Zašleme vám zprávu jakmile knihu naskladníme

Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.

Více informací o knize Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V

Anotace knihy

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: