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Das vorliegende Buch dokumentiert umfassende experimentelle und theoretische Untersuchungen zur Injektionsabhängigkeit von Photostrom-Messungen. Die Injektionsabhängigkeit der Ladungsträgerlebensdauer von Eisen-kontaminierten bordotierten Siliciumproben wurde mit dem konventionellen Elymat-Verfahren experimentell ermittelt und durch zweidimensionale Simulationen verifiziert. Die dabei gewonnenen Ergebnisse sind von grundlegender Bedeutung für die ebenfalls erfolgte Charakterisierung von Isolator/Silicium-Strukturen mit einem modifizierten Elymat-Verfahren. Erstmals ist es mit dieser Messmethode gelungen, die Grenzflächenzustandsdichte und die Isolatorvolumenladung quantitativ zu bestimmen.§Das Buch richtet sich an Ingenieure und Physiker aus dem Gebiet der Halbleiterphysik und -messtechnik.

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Zařazení knihy Knihy v němčině Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik Technik Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik

• Plný název: Photostrom-Spektroskopie von Silicium
• Podnázev: Charakterisierung von Eisen kontaminiertem Silicium und Isolator/Silicium-Strukturen mit dem Elymat-Verfahren
• Autor: Mathias Rommel
• Jazyk: Němčina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 232
• EAN: 9783836490887
• ID: 02257559
• Nakladatelství: VDM Verlag Dr. Müller
• Hmotnost: 362 g
• Rozměry: 220 × 150 × 14 mm
• Datum vydání: 13. November 2013

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