Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 357 bodů

Anotace knihy

The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measure

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
• Autor: Andrej Rumiantsev
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 250
• EAN: 9788770221122
• ISBN: 877022112X
• ID: 22491651
• Nakladatelství: River Publishers
• Hmotnost: 566 g
• Rozměry: 234 × 156 × 20 mm
• Datum vydání: 30. May 2019

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---