Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Microscopy of Semiconducting Materials

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 2116 bodů

Anotace knihy

Presents an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. This book explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultra fine electron probes, and EELS to investigate semi conducting structures. It is suitable for academics and researchers in materials science, and electrical and electronic engineering.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Electricity, electromagnetism & magnetism

• Plný název: Microscopy of Semiconducting Materials
• Podnázev: 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 774
• EAN: 9780750306508
• ISBN: 9780750306508
• ID: 06706306
• Nakladatelství: Taylor & Francis Ltd
• Hmotnost: 1590 g
• Rozměry: 234 × 156 × 41 mm
• Datum vydání: 01. January 2000

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---