Microelectronic Test Structures for CMOS Technology / Nejlevnější knihy
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Kód: 09062367

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Autor Mark B Ketchen

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques f ... celý popis

4335


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-18 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Nákupem získáte 434 bodů

Anotace knihy

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

4335

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: