Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

The thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed. §§§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Chemistry Analytical chemistry

• Plný název: Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
• Autor: Umberto Celano
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 175
• EAN: 9783319395302
• ISBN: 3319395300
• ID: 02991839
• Nakladatelství: Springer International Publishing AG
• Hmotnost: 456 g
• Rozměry: 165 × 245 × 17 mm
• Datum vydání: 21. June 2016

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---