Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Integrated Circuit Quality and Reliability

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 652 bodů

Anotace knihy

Examines various aspects of integrated circuit design, fabrication, assembly and test processes as they relate to quality and reliability. This work discusses: circuit design technology trends; sources of error in wafer fabrication and assembly; avenues of contamination; IC packaging methods; and, in-line process monitors and test structures.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Production engineering

• Plný název: Integrated Circuit Quality and Reliability
• Autor: Eugene R. Hnatek
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 808
• EAN: 9780824792831
• ISBN: 9780824792831
• ID: 06698114
• Nakladatelství: Taylor & Francis Inc
• Hmotnost: 1288 g
• Rozměry: 165 × 239 × 42 mm
• Datum vydání: 01. December 1994

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---