Epioptics 2000 - Proceedings Of The 19th Course Of The International School Of Solid State Physics / Nejlevnější knihy
Epioptics 2000 - Proceedings Of The 19th Course Of The International School Of Solid State Physics

Kód: 05066964

Epioptics 2000 - Proceedings Of The 19th Course Of The International School Of Solid State Physics

This is the proceedings of a workshop which brought together researchers from universities and research institutes who work in the fields of (semiconductor) surface science, epitaxial growth, materials deposition and optical diagn ... celý popis

3324

Dostupnost:

50 % šanceMáme informaci, že by titul mohl být dostupný. Na základě vaší objednávky se ho pokusíme do 6 týdnů zajistit.
Prohledáme celý svět

Informovat o naskladnění

Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Informovat o naskladnění knihy

Informovat o naskladnění knihy


Souhlas - Souhlasím se zasíláním obchodních sdělení a zpracováním osobních údajů k obchodním sdělením.

Zašleme vám zprávu jakmile knihu naskladníme

Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.

Více informací o knize Epioptics 2000 - Proceedings Of The 19th Course Of The International School Of Solid State Physics

Nákupem získáte 332 bodů

Anotace knihy

This is the proceedings of a workshop which brought together researchers from universities and research institutes who work in the fields of (semiconductor) surface science, epitaxial growth, materials deposition and optical diagnostics relevant to (semiconductor) materials and structures of interest for present and anticipated (spin) electronic devices. The workshop assessed the capabilities of state-of-the-art optical techniques in elucidating the fundamental electronic and structural properties of semiconductor and metal surfaces, interfaces, thin layers, and layer structures, and examined the usefulness of these techniques for optimization of high quality multilayer samples through feedback control during materials growth and processing.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Materials / States of matter

3324

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: