Electromigration in Metals / Nejlevnější knihy
Electromigration in Metals

Kód: 38365327

Electromigration in Metals

Autor Paul Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev

Learn to assess electromigration reliability and design resilient chips, building from fundamental physics to advanced methodologies.

2936 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 9-13 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Electromigration in Metals

Nákupem získáte 294 bodů

Anotace knihy

Learn to assess electromigration reliability and design resilient chips, building from fundamental physics to advanced methodologies.

Parametry knihy

2936 Kč

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: