Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize CTL for Test Information of Digital ICs

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: CTL for Test Information of Digital ICs
• Autor: Rohit Kapur
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 173
• EAN: 9781475778007
• ISBN: 1475778007
• ID: 02181748
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 296 g
• Rozměry: 10 × 155 × 11 mm
• Datum vydání: 26. April 2013

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---