Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 495 bodů

Anotace knihy

This book covers a broad range of topics related to SRAM design and testing. It includes everything from SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
• Podnázev: Process-Aware SRAM Design and Test
• Autor: Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 194
• EAN: 9789048178551
• ISBN: 904817855X
• ID: 01975971
• Nakladatelství: Springer
• Hmotnost: 332 g
• Rozměry: 235 × 155 × 12 mm
• Datum vydání: 28. October 2010

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---