Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Charged Semiconductor Defects

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 509 bodů

Anotace knihy

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Chemistry Analytical chemistry

• Plný název: Charged Semiconductor Defects
• Podnázev: Structure, Thermodynamics and Diffusion
• Autor: Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 298
• EAN: 9781849968201
• ISBN: 1849968209
• ID: 01434720
• Nakladatelství: Springer London Ltd
• Hmotnost: 474 g
• Rozměry: 235 × 155 × 17 mm
• Datum vydání: 22. October 2010

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---