Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 165 bodů

Anotace knihy

Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine the quality of semiconductor materials and microelectrome-chanical systems. This work characterizes the stress distribution in wurtzite gal-lium nitride grown on c-plane sapphire substrates by molecular beam epitaxy. Thiswide bandgap semiconductor material is being considered by the Air Force ResearchLaboratory for the fabrication of shock-hardened MEMS accelerometers.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Society & social sciences Education

• Plný název: Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
• Autor: Francisco E Parada
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 100
• EAN: 9781288368518
• ISBN: 9781288368518
• ID: 08247026
• Nakladatelství: Biblioscholar
• Hmotnost: 195 g
• Rozměry: 246 × 189 × 5 mm
• Datum vydání: 01. November 2012

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---