Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 509 bodů

Anotace knihy

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Plný název: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
• Autor: Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 430
• EAN: 9781441932990
• ISBN: 1441932992
• ID: 01421940
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 1390 g
• Rozměry: 229 × 152 × 25 mm
• Datum vydání: 05. December 2010

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---