Basic Concepts of X-Ray Diffraction / Nejlevnější knihy
Basic Concepts of X-Ray Diffraction

Kód: 02126956

Basic Concepts of X-Ray Diffraction

Autor Emil Zolotoyabko

Authored by an experienced university teacher and based on his lectures, this textbook answers the questions students really ask instead of delving into esoteric details. It adopts a well-balanced approach, with visual, intuitive ... celý popis

2507

Dostupnost:

50 % šanceMáme informaci, že by titul mohl být dostupný. Na základě vaší objednávky se ho pokusíme do 6 týdnů zajistit.
Prohledáme celý svět

Informovat o naskladnění

Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Informovat o naskladnění knihy

Informovat o naskladnění knihy


Souhlas - Souhlasím se zasíláním obchodních sdělení a zpracováním osobních údajů k obchodním sdělením.

Zašleme vám zprávu jakmile knihu naskladníme

Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.

Více informací o knize Basic Concepts of X-Ray Diffraction

Nákupem získáte 251 bodů

Anotace knihy

Authored by an experienced university teacher and based on his lectures, this textbook answers the questions students really ask instead of delving into esoteric details. It adopts a well-balanced approach, with visual, intuitive understanding taking precedence over formalism, and only including as much mathematics as necessary.§Both dynamical and kinematic X-ray diffraction is considered from a unified viewpoint, based on the fundamental laws that govern the interaction of X-rays with matter. The text is focused on basic concepts, but also covers in detail such classical and modern applications as line broadening, texture and strain/stress analyses, X-ray mapping in reciprocal space, high-resolution X-ray diffraction, and inelastic X-ray scattering. This unique scope, in combination with the otherwise hard-to-find information on X-ray focusing components, X-ray interaction with phonons, coherent scattering of Mössbauer radiation, and the interrelation between grain size-mediated and microstrain fluctuation-induced broadenings of X-ray diffraction profiles, makes this indispensable reading for any serious user of X-ray diffraction techniques. Numerous clear-cut illustrations, an easy-to-read style of writing, as well as short, easily digestible chapters all facilitate comprehension.§Compact and self-contained, the text is suitable for x-ray diffraction courses in materials science, physics, chemistry, and biology, irrespective of the reader?s academic background.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Particle & high-energy physics

2507

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: