Atomic Force Microscopy / Nejlevnější knihy
Atomic Force Microscopy

Kód: 05182132

Atomic Force Microscopy

Autor Pier Carlo Braga, Davide Ricci

The natural, biological, medical, and related sciences would not be what they are today without the microscope. After the introduction of the optical microscope, a second breakthrough in morphostructural surface analysis occurred ... celý popis

5065


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 12-15 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Atomic Force Microscopy

Nákupem získáte 507 bodů

Anotace knihy

The natural, biological, medical, and related sciences would not be what they are today without the microscope. After the introduction of the optical microscope, a second breakthrough in morphostructural surface analysis occurred in the 1940s with the development of the scanning electron microscope (SEM), which, instead of light (i. e. , photons) and glass lenses, uses electrons and electromagnetic lenses (magnetic coils). Optical and scanning (or transmission) electron microscopes are called far-field microscopes because of the long distance between the sample and the point at which the image is obtained in comparison with the wavelengths of the photons or electrons involved. In this case, the image is a diffraction pattern and its resolution is wavelength limited. In 1986, a completely new type of microscopy was proposed, which, without the use of lenses, photons, or electrons, directly explores the sample surface by means of mechanical scanning, thus opening up unexpected possibilities for the morphostructural and mechanical analysis of biological specimens. These new scanning probe microscopes are based on the concept of near-field microscopy, which overcomes the problem of the limited diffraction-related resolution inherent in conventional microscopes. Located in the immediate vicinity of the sample itself (usually within a few nanometers), the probe records the intensity, rather than the interference signal, thus significantly improving resolution. Since the most we- known microscopes of this type operate using atomic forces, they are frequently referred to as atomic force microscopes (AFMs).

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Biology, life sciences Biochemistry

5065

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: