Kód: 06344816
Features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers cover a wide range of testing and failure analysis topics of practical value to anyone working ... celý popis
Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.
Features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers cover a wide range of testing and failure analysis topics of practical value to anyone working to detect, understand, and eliminate electronic device and system failures.
Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science
Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších
Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Nákupní košík ( prázdný )