Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction / Nejlevnější knihy
Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction

Kód: 04691740

Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction

Autor SAE International

This editorial review of J784a is based upon decades of experience in the practical application of x-ray diffraction residual stress measurement methods in thousands of individual applications. J784 is a classic document. It serve ... celý popis


Momentálně nedostupné

Informovat o naskladnění

Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Informovat o naskladnění knihy

Informovat o naskladnění knihy


Souhlas - Souhlasím se zasíláním obchodních sdělení a zpracováním osobních údajů k obchodním sdělením.

Zašleme vám zprávu jakmile knihu naskladníme

Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.

Více informací o knize Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction

Anotace knihy

This editorial review of J784a is based upon decades of experience in the practical application of x-ray diffraction residual stress measurement methods in thousands of individual applications. J784 is a classic document. It serves as the only recognized standard for residual stress measurement available.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: