Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 444 bodů

Anotace knihy

A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale§§Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology§Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories§Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices§Companion website includes Lab View soft, micro-vision system test software, and algorithm software, enhancing the learning experience

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Instruments & instrumentation engineering

• Plný název: Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
• Autor: Chenyang Xue, Xiujian Chou, Jijun Xiong, Dachao Li, Xing Fu, Wendong Zhang
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 344
• EAN: 9781118717967
• ISBN: 1118717961
• ID: 04952297
• Nakladatelství: John Wiley & Sons Inc
• Hmotnost: 670 g
• Rozměry: 250 × 177 × 21 mm
• Datum vydání: 30. December 2016

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---