Mohlo by se vám také líbit

Informovat o naskladnění knihy

Více informací o knize ISTFA 2008

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Anotace knihy

Features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers cover a wide range of testing and failure analysis topics of practical value to anyone working to detect, understand, and eliminate electronic device and system failures.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Plný název: ISTFA 2008
• Podnázev: International Symposium for Testing and Failure Analysis (Book & CD)
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 500
• EAN: 9780871707147
• ISBN: 9780871707147
• ID: 06344815
• Nakladatelství: ASM International
• Datum vydání: 01. January 2008

---

---

---